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标题: 输出IC封装金线偏移结果预防短路问题 [打印本页]

作者: K哥    时间: 2016-9-22 14:59
标题: 输出IC封装金线偏移结果预防短路问题
IC封装的程序中,金线间的距离会受制程影响而缩短,甚至有相互接触现象。金线一旦相互接触,便会造成短路。因此,掌握金线偏移的幅度,是IC封装制程中的一大挑战。现在,透过Moldex3D模拟分析工具,可以输出金线偏移的结果,让使用者精准掌握偏移程度,以利优化金线布局。

步骤 1: 金线偏移分析结束后,于金线偏移(Wire Sweep)结果项目点击鼠标右键,即会出现导出(Export)选项;接下来于Export的子选单内,选择输出金线偏移结果(WireSweep result)和最近金线的距离(Wire towire distance)偏移后导线(Deformedwire)
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步骤 2: 使用者点选「金线偏移结果」、「和最近金线的距离」或「偏移后导线」之后,可选择欲输出的金线 ID (WireID),或以金线ID搜寻(如下图)。其输出的结果会记录在附文件名为‘.csv’的档案中。程序将每条金线分割成50段线段元素,共51个节点。因此每条金线皆包含51 个节点之坐标、位移及拖曳力。
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·        点击 [attach]1239353[/attach]即可选择存放‘.csv’文件的路径。
·        欲展示金线ID,于显示ID下拉选单勾选金线ID(Wire ID)即可。详见下图:
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步骤 3: 使用者可指定金线与金线间距离的最大值,并输出其金线信息,如下图所示:
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注:金线与金线间距离将以以下格式输出:
[attach]1239356[/attach]
格式说明:
①指定金线与金线间最大距离。
例如:金线与金线间距离小于0.298 mm 即会被输出。
②金线ID。
③搜寻金线数量。
例如:共有两条金线与Wire 1 距离小于0.298 mm。
④金线间距离,最短的距离会依序列出。
例如:Wire 2 与Wire1距离最接近,为0.125 mm;Wire 64与Wire 1距离 0.179 mm次之。

步骤 4: 若于步骤1选择「偏移后导线」,则金线分析变形后的几何数据将会以DXF格式储存。
注:附档名为*.dxf之档案为几何文件,需使用CAD软件开启。
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