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[求助] 可变剖面扫描曲面过程问题

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发表于 2007-6-26 16:36:27 | 只看该作者 回帖奖励 |正序浏览 |阅读模式

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在购书中心买了两本书学习Pro/E几天了,现在还不能灵活的运用。在学习过程中发现两个问题,请教各位前辈们:

       1、”可变剖面扫描是特征剖面沿着轨迹线扫描而成的曲面,剖面的形状随着轨迹的变化而变化。“
             这句话中的变化的运算依据是什么(算法是什么)?

       2、”可变剖面扫描需要定义一个剖面外,还涉及到多条轨迹,这些轨迹分别为:一条原始轨迹、一条X轨迹、多条一般轨迹。“
            这句话中各个轨迹的作用是什么?各个轨迹有什么要求?


以上两个问题请教,望不惜赐教!
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 楼主| 发表于 2007-6-26 17:16:12 | 只看该作者

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发表于 2007-6-26 16:58:04 | 只看该作者

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