【求助】手机设计中的公差分析方法是怎样的？

只看该作者 · 发表于 2010-8-20 07:26:07

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只看该作者 · 发表于 2010-8-23 17:30:16

资料不错呀，，学习了
谢谢楼主

只看该作者 · 发表于 2010-8-23 17:55:19

吼吼，顶下先。。

只看该作者 · 发表于 2010-8-28 14:19:56

手机制造的，不是很懂公差，希望有好的资料学习下，哪位高人能搞点资料啊，感激不尽！

只看该作者 · 发表于 2010-8-31 23:40:57

Good talking subject, sharing experience, thanks

只看该作者 · 发表于 2010-9-2 11:53:42

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只看该作者 · 发表于 2010-9-6 16:49:06

下了，看看 14# yh7618

只看该作者 · 发表于 2010-9-6 16:54:06

怎么没人顶啊

只看该作者 · 发表于 2010-9-6 21:33:58

22# ken1123

只看该作者 · 发表于 2010-9-6 21:39:55

CPK是制程能力指数,衡量在大量生产当中的产品稳定性是否可控,件数比较少可以用worst case做公差分析,比如2~3件,因为叠加公差影响较小,但如果件数较多的话就要用RSS方式来做公差分析,里面牵涉到PPK等等一些指数,还要看公差分析后有多少的不良率,通过调整相关尺寸的公差看良率是否在理想范围内.

当前离线技术贡献大米积分 2 头像被屏蔽	81楼发表于 2010-8-20 07:26:07 \| 只看该作者提示: 作者被禁止或删除内容自动屏蔽
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