倾心贡献：DELL（戴尔电脑公司）产品认证文件（齐全）！

只看该作者 · 发表于 2005-11-7 22:44:57

ding

只看该作者 · 发表于 2005-11-8 11:38:51

頂,謝謝,繼續努力!!

只看该作者 · 发表于 2005-11-8 14:44:17

THANKS!

只看该作者 · 发表于 2005-11-8 15:07:22

谢谢大家捧场，最近几天比较忙，无暇顾及，今天过来再把余下的资料贡献给大家！
DFMEA资料，详细讲解设计阶段的产品失效预估！

只看该作者 · 发表于 2005-11-8 15:15:36

PG Component Derating

只看该作者 · 发表于 2005-11-8 15:23:54

The objective of this test is to subject the system and subassemblies to both operational and non-operational stresses under differing combinations of temperature and altitude (often called a Temp-Altitude Test)

只看该作者 · 发表于 2005-11-8 15:26:04

产品使用材料限制

只看该作者 · 发表于 2005-11-8 15:29:27

再来无铅要求方面的资料

只看该作者 · 发表于 2005-11-8 15:36:17

对开发阶段产品的可靠性测试做了详细的讲述：包括测试计划的建立，reliability test，RDGT test，DVTtest

只看该作者 · 发表于 2005-11-8 15:39:53

再来，大家记得要顶！
版主要给我加分啊，目前处于极度贫困阶段！

倾心贡献：DELL（戴尔电脑公司）产品认证文件（齐全）！

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