Reflection Lines,Isophote AND Highlight Lines

jack196453

有人在版上 问这个问题 拿出来 简单说明一下(请神狗(Google)帮忙的 不是原创)

反射线法(Reflection Lines)
在光源Lc和视点Ep确定的条件下，反射线由曲面上的一组点P组成，点P在曲面上的法线方向N分别与点P到光源的矢量a和与视点Ep所成角度相等。
反射线的连续次数比曲面连续次数小1次。如果两相邻曲面上的反射线断开，则该两曲面最多点连续；如反射线有尖点，则曲面切矢连续；如反射线光滑过渡，则两曲面曲率连续。


等照度线法（Isophote）
在光照方向一定的条件下，等照度线由这样一组点构成，这些点在曲面上的法向N与光照方向L所成角度一致，即L•N＝c，c为常量。常量c的取值从-1过渡到1，就生成一组等照度线。
等照度线的连续次数比曲面连续次数小1次，即如果相邻曲面上的等照度线是光滑过渡的，则这些曲面之间满足曲率连续。另外，等照度线的形状也反映了曲面形状的变化，如在球面上，等照度线为圆形


高光线法（Highlight Lines）
高光线法是在反射线法的基础上发展出来的。它的构建原理与反射线基本相同，不同之处是在高光线构建过程中光源与视点重合。


在CATIA的FreeStyle模块中，除提供了以上三种曲面品质评价方法外，还提供了截面线法来分析曲面品质。所谓截面线法，就是生成一组平面与被分析曲面的截面线，通过分析这些截面线的曲率变化和截面线之间的形状变化来分析曲面品质。作为A级曲面，截面线的曲率变化应均匀，没有多余拐点，截面线之间的形状变化也应均匀。

[ 本帖最后由 jack196453 于 2007-7-3 18:24 编辑 ]

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