关于三座标测量的疑问

我贴篇英文的文章吧，里面对测量方法说得还是比较清楚的。不知道大家有没有兴趣看。

Analog scanning probes沿着一定的方向运动并且总是获得固定密度的数据点集，我猜这就是线测吧。其精度还可以，一秒钟可以获得2000个点，而且精度可以达到Touch trigger probes的精度。

谢谢楼上
＋分～～

欧阳清风 wrote:
第三个应该就是现在看到的激光扫描方式，非接触式  
  它的基本原理是这样的，不同位置多角度同时发出几束激光束，然后接收它的反射，测量它的时间差，利用三角测距法，得出各个点距离基准点的三维距离，得出点云

  
激光扫描非接触式的，如图

Analog scanning probes应该不是激光扫描，是接触式的一种
非接触式的分为两种： 1。laser probes
                               2。vision probes

通常的非接触式的测量分类是这样的：主动式（active）和被动式（passive），被动式测量系统没有光源，其传感器接受的外界光源的反射光，就像照相机一样，所以被动测量法又被称为照相测量法（photogrammetry），ATOS的TRIPTOP系统就属于该类，这种方法的缺点主要是精度不太高，但是，现在随着技术的进步，其测量精度已经得到了很大的提高。主动式测量法则是有光源发射出光（或其他的什么设备发出X光，超声波等东东），传感器接受到反射光后根据光学三角原理，相位移动原理等来确定样件表面点的三维空间位置。主动式测量系统中，应用最广泛的是结构光（structure light）系统。下面引用别人的一段文章：“结构光的三角测量法是商品化的光学测量系统中最为流行的，其方法是用一光束以一定的角度投影到被测物体表面，再以一定角度用摄像机摄取图像，最后根据三角原理从二维图像中提取第三维信息，即深度信息。结构光的三角测量法为得到三维曲面的等高线图，典型的方式是单点式的扫描，其扫描是一次得到一点，采用同步扫描镜让整个传感器头做扫描运动，一些扫描镜系统可以接近电视摄像机摄取一幅图像的速度，收集全场数据。这类系统已可达几十微米的测量精度。与此类似，用一条扫描光束线投射到表面，也同样用CCD相机获取其变形的光线,从而得到等高线表面。进一步将投射线的光束扩展到多条线,那么一次测量就能获得更大的测量区域。这种多条射线形成方法通常使用简单光栅、变形光栅或编码光栅等。根据形变量与高度关系的不同描述方法以及对光栅条纹的处理方法的不同,可以将光栅投影测量大致分为2类:直接三角法和相位测量法。”
      需要注意的是，结构光方法中使用的光源并不都是激光光源，还有很多的系统使用的是白光或编码光，比如ATOS系统。
     当然，还有一些其他的非接触光学测量方法，比如Moire法，干涉法（其实我认为Moire法就是干涉法的一种），但使用这些方法的商用系统好像不多，估计还是由于精度的问题吧。
   其实目前对非接触测量的分类还是比较乱的，我下面再贴一篇英文文章。

一篇英文的文章，总结了二十年来光学测量技术的发展，值得一看，就是太长。

cheetah 的好货真多，