点云对齐问题。

只看该作者 · 发表于 2004-4-23 17:00:55

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请问一下搞逆向的高手，比如我有一手机需要扫描点云，我是把上下盖分开来扫，这样一来就会有个问题，就是如果我扫描后单独进行建模，这样上下配合就无法做的好，但是我先用点云来装配好再分开建模的话，这样配合就可以很好，但是点云啥基准都没有，很难装配啊，并且我用GEOMAGIC的装配功能也很难把点云对齐好，请问高手是如何解决的？？？

只看该作者 · 发表于 2004-4-23 19:46:24

等于是说在PROE建模的时候上盖和下盖的最大边线肯定是只能用同一条曲线,这样上下盖才能配合好,这样做就需要先做一个,然后在PROE装配里COPY做好的那个配合面,才去做下盖,但是我这两个点云如何才能在PROE装配好呢

只看该作者 · 发表于 2004-4-23 22:04:53

换register功能更好的软件,例如Rapidform和imageware等,或者配合扫描仪转台来做.

例如美能达的Vivid910配合转台可以自动拼合物体的多个方向的面,速度快,精度非常高,拼合精度可以做到小于0.02mm.

只看该作者 · 发表于 2004-4-24 02:59:09

vivid 这个不是说一个零件分开多面扫的问题啊,而是两个有配合关系的零件扫出来后如何让他配合好呢,如果是多面进行扫描我可以加几个球来作基准(必须是一个零件)都可以使点云拼接啊.

只看该作者 · 发表于 2004-4-25 22:22:10

我再想想.觉得你有点思路了,就是不知道怎么弄最好,对巴?

有空我问问我认识的高手去.

只看该作者 · 发表于 2004-4-26 00:33:22

点云对齐有三种方法
1  手机上下盖扫描时要留出重叠区,采用三个基准点对齐,也就是321对齐  .需要在扫点时定义三个基准点,三个基准点相距要远.  对齐的精确度要看你的基准点的精度.==========imageware

2: 手机上下盖扫描时要留出重叠区,先视觉判断,大体在上下盖各选3点,进行粗对齐, 然后再使用ICP算法来进行精确对齐.=======GEOMAGIC STUDIO

3:最简单的方法,买一台好的激光测量机,它有自动校准器的