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B10 应用CAE 技术于残留应力影响电子连接器断裂问题之探讨

2011-12-20 17:42| 查看: 47787| 评论: 0|来自: 产学联盟

摘要: 随着塑料射出成型制程技术的进步,3C 产品组件除了要求高质量、高精度外,微小化及轻量化更成为近来趋势,其使得3C 产品内的电子连接器愈趋精微,但产品强度的要求却未减反增。而影响强度的因素有很多种,其中残留应 ...

二、案例背景信息

本文使用的案例产品为一电子连接器,其几何如图二所示。此产品之几何尺寸如下:
 长约20.05mm
 宽约3.44mm
 高约8.15mm
 模穴体积约0.17 c.c.
厚度分布为0.04mm 至1.23mm 之间,如图三所示,主要探讨靠Pin 区域厚度为0.18mm;原始流道设计采单点针点浇口型式直接进浇,如图四所示,浇口尺寸为0.5mm;产品使用的材料是含玻纤30%的LCP VECTRA E130i,其加工温度范围是325℃至345℃、固化温度287℃,如图五所示。而成型条件的设定如图六所示,在充填阶段设定为充填时间0.05 秒,塑料温度335℃,模具温度100℃,射出压力39.79MPa;在保压阶段设定为保压时间0.8 秒,保压压力31.67MPa。


图二 产品几何图

图三 厚度分布图

图四 原始流道设计
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