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B10-计算机辅助分析 IC 封装模具上浇口对充填及金线偏移的影响

2011-8-17 09:16| 查看: 56482| 评论: 0|原作者: 陈碧森 吴嘉斌|来自: 亚东学报

摘要: 本文针对IC封装产品,利用绘图软件(Pro-E 或 Rhino) 及 有 限 元 素 网 格 软 体 (InPack 或 Rhino),结合模流分析软件(Moldex3D-RIM)、 金线偏移分析软件(InPack)和结构分析软件(ANSYS),共同组成一套完整 .. ...

4.转化率分布

由转化率结果如图 16 所示,由图看到浇口 附近的料在填满时才刚填入,被模具加热时间 短,故转化率也最低。而流动波前末端,被模 具加热时间最久,温度最高,转化率也最高。 这四组的结果最大转化率分别是 15.548%、15.550%、15.531%及 15.566%差异不大 , 除了 Run3 的流动长度较短,分布跟其他三组有 些许的不同,但转化率的影响在于时间,故改 变浇口位置及形式,对转化率没有甚么影响。

图 16.Run1 转化率分布[Moldex3D]

5.金线偏移分布

经由图 17~21 看出,其中第 2、19、36 和 53 条金线的偏移量偏大,即在芯片的角落处。此处 金线和封装材料融胶流动波前方向一致,其正向 压力造成的黏滞拖曳力是整组中最大的,显示金 线偏移量随位置而异,在芯片的角落处,金线偏 移量明显较大。

图 17. Run1 金线偏移分布[InPack]图 18 .Run2 金线偏移分布[InPack]


    

图 19. Run3 金线偏移分布[InPack]     图 20. Run4 金线偏移分布[InPack]

图 21.四组分析的金线偏移结果图

由金线偏移结果图 21 和表 5~7 所示,得到Run1 这组塑料充填到金线时黏度最小,所以造成 的金线偏移量为四组中最小的一组; Run2 跟 Run4 的浇口位置是一样的,塑料充填到金线时黏 度大致一样,因 Run4 的浇口截面积比较大,压 力较低,所以金线偏移量比 Run2 小;Run3 这组 塑料充填到金线时,因浇口接近金线,温度最 低,黏度最高,由 Lamb’s Model 公式知,Run3 雷诺数小,造成拖曳系数及拖曳力最大,所以造 成的金线偏移量也最大。故最大值发生在 Run3, 接近浇口的芯片角落处的金线中点位置。


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